2010 Taiwan AOI  Forum & Show
 
日  期:2010年11月11日(星期四)09:30~17:00
地  點:新竹市‧交通大學‧電子資訊大樓1F (新竹市大學路1001號)
主辦單位:經濟部精機小組、工研院、自動光學檢測設備聯盟、台灣電子設備協會、交通大學
協辦單位:電腦視覺監控產學研聯盟
自動光學檢測設備聯盟每年舉辦AOI論壇展覽,集結技術開發者、AOI模組/元件供應者、AOI設備製造者、AOI設備使用者於一堂,
進行年度最密集之產經與技術交流,以及最熱烈之產業上、中、下游的社群互動,其規模與效益不僅獲得多方肯定,
對於凝聚產業發展力量,更具有莫大意義。
 
參考去年參加者的反映,今年論壇展覽活動將回復於新竹舉辦。以「滿足產業發展需求」為活動宗旨,
今年新增「技術能量商機媒合」單元,並有台灣電子設備協會-TEEIA(原TOSEA)加入共同舉辦,
技術交流範疇從AOI拓及光電及電子產業之製程與生產設備。 
 
~ 充實精采的年度盛會,竭誠邀請報名參加,活動詳情請見《連結》,發表技術清單請見附檔 ~
§ 產業資訊交流
 © iSuppli吳金榮資深顧問演講「從全球太陽能市場供應鏈,看設備商面對的挑戰」
 © PIDA呂紹旭產業分析師演講「從兩岸LED產業發展,看設備商機會」
 ©台智精密、丞基技研、曜宇科技、日商大都電子等20家企業展出最新AOI設備模組與元件
 ©新加坡Basle、美商AEROTECH、新亞洲儀器、碁仕科技等4家企業進行新產品發表會
 
§ 技術資訊交流
 ©【太陽光電檢測】單元將有「應用在太陽能電池上的身份辨識系統」、「太陽能晶片於製程上之影像定位研究」、
  「太陽能基板表面粗糙度之雷射散斑技術分析與研究」7項技術研討。
 ©FPD檢測】單元將有「具線上即時振動偵測與回授補償之白光干涉量測技術發展」、
  「白光干涉顯微系統之同時二維與三維取像方法」5項技術研討。
 ©LED檢測】單元將有「側照式SMD-LED瑕疵自動光學檢測系統」、「二維濾鏡式彩色分析儀在LED的量測應用」
  4項技術研討。
 ©【幾何尺寸量測】單元將有多項跨領域應用如「以高動態範圍影像重建作車燈燈形之自動檢測」、
  「油路控閥光學檢測系統之開發」、「尿沉渣自動細胞分析儀開發」8項技術研討。
 
 全部52項技術內容詳見附檔。
 
§ 技術商機媒合
 ©由工研院量測中心、工研院雷射中心、金屬中心、儀科中心、中原大學機械系、元智大學工工管系、
  北科大自動化所、台大資工所、台科大自控所、清大動機系等10所學研機構聯合發表
  「快速LED光學特性量測設備解決方案」、「高檢出率之太陽能晶片微裂缺陷檢測系統」、
  「先進通用型特徵抽取及影像辨識軟體解決方案」12項接近產品化之實用技術。媒合技術內容詳見附檔。
 ©本單元當天將進行一對一媒合商談,歡迎有興趣之企業先行預約,機會有限!預約電話02-27293933林小姐。